روش فلورسانس پرتو x (XRF) يا طيف سنجي پرتو x يکي از روشهاي آناليز عنصري است که امروزه از آن به طور وسيعي در صنعت و مراکز پژوهشي استفاده مي شود. اين روش به ويژه به خاطر سرعت زياد در شناسايي عنصري براي برخي از صنايع ضروري است. در اين روش پرتو x به نمونه مجهول تابيده و در اثر برانگيختگي اتمها باعث پديد آمدن پرتو x ثانويه مي شود سپس با تعيين طول موج يا انرژي پرتو ايکس ثانويه عنصر يا عنصرهاي مورد نظر را مي توان شناسايي کرد.
 

◄  اساس کار:
پرتو خروجي از لوله پديد آورنده پرتوx به نمونه مي تابد و در اثر بمباران، الکترونهاي موجود در مدار داخلي اتم خارج شده و جايگزيني اين الکترونها از مدارهاي بالايي، سبب پديد آمدن پرتو x يا همان پرتو مشخصه خواهد شد.
شکل اجزاي اين دستگاه در شکل 1 نشان داده شده است. پرتو x خروجي از نمونه که در حقيقت پرتو مشخصه عنصرهاي موجود در نمونه است پس از عبور از جمع کننده به سوي يک بلور هدايت مي شود.

 



 

◄  اجزاي دستگاه XRF  :
لوله پديد آورنده پرتو x : دردستگاه هاي مختلف XRF ، از لوله هاي گوناگوني استفاده مي شود . تفاوت آنها در توان استفاده شده در لوله ، محل قرار گرفتن پنجره برليومي و نوع سرمايش مي باشد.
پنجره خروجي مي تواند در ديواره کناري و يا در انتهاي لوله قرار داشته باشد . در اين نوع لوله آند به صورت يک لايه نازک بر روي پنجره برليومي قرار دارد . نمونه اي از اين نوع لوله ، در شکل زير نشان داده شده است. جنس آند در دستگاه XRF به طول معمول فلز کرم، موليبدن، رنيم يا تنگستن است. وظيفه لوله پرتو x پديد آوردن پرتوي با شدت زياد براي برانگيختگي همه عنصر هاي موجود در نمونه مجهول است . به عبارت ديگر ، طيف پرتو خروجي از لوله ، بايد طول موج کمتري از لبه جذب عنصرهاي موجوددر نمونه مجهول داشته باشد
 

منبع:www.iustge.blogfa.com